利用图像处理的粒度分布与颗粒分析
以往的颗粒及粒度分析使用激光散射式颗粒分析仪或显微镜。此外，近年来随着CMOS拍摄元件及镜头精度、照明技术、图像处理技术的进步，也有使用高性能数码显微系统的情况。
新型数码显微系统不仅具备高画质，还配备了利用图像二值化的颗粒抽取及定量化、测量条件再现等满足各种需求的丰富功能。
下面我们将为您介绍使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析课题解决案例。
利用图像处理的粒度分布与颗粒分析是什么
“图像二值化”是指将具有灰度级的图像转换为黑白图像的处理。设定任意的阈值，并与各像素值进行比较，当大于阈值时转换为黑，小于阈值时转换为白。另外，还可以指定进行二值化的范围。
进行图像二值化后，可进行从必要部分仅获取黑或白信息的处理，从而使颗粒分析更加容易且高速。
使用新型4K数码显微系统的粒度分布及颗粒分析案例
传统与现代脉冲激光绕射及散射法*始终无法 留意合理颗料。最后，用光学显微镜实现留意时要要炉火纯青度，也很难演绎视频拍摄能力。有时，是需要运行一些系统分折更改的动态数据。 巧用4K数据显微程序“VHX型号”展开粒径划分及粉末讲解时，在观查事实粉末的互相，可展开种种预估。况且，确认图案二值化展开自然户型预估、拍攝修改重现及效准时，不用验测人的且要熟练掌握设备度，简洁明了方法可以了达到。激光绕射及散射法
是指利用激光照射进行粒度分布及颗粒分析。利用散射光强度与颗粒数量成正比的规律性以及颗粒大小与光散射绕🀅射模式꧂的相关性的测量分析法。
自动面积测量
能够简单进行指定范围内的目标物面积测量与计数。使用图像的亮度及颜色进行二值化，还可计算面积、最大直径、最小直径等参数，并剔除多余目标物或分离重合的目标物。另外，可使用过去测量的图像数据，在相同条件下进行分析。
并且，可将测量值以表格或柱状图形式输出，从而能够定量掌握粒度分布特征。
拍摄设定再现与校正
通过体视显微镜分析时，无发重现上星期的拍摄视频先决先决条件（灯饰照明、快门高速度、白平衡性等）及其对其进行二值化时的图形外理及标定等测试先决先决条件。 4K数码图文显微系统化“VHX系统”则只需从相册图片选择已保存文档的图形，既能重现以往的影视拍摄制作确定。纵使检则人变幻或用时消逝后，能够够以与上个同等的影视拍摄制作前提做好分析。
- A. 高分辨率HR镜头
- B. 电动镜头转换器
观察、拍摄、测量只需1台设备
使用高精细4K数码显微系统“VHX系列”，能够进行高效化作业，实现消除人为误差的正确测量及分析。
利用由先进光学技术、图像处理技术及自动化技术共同实现的高精细4K图像，可以清晰观察涂膜及起粒、分散的详细情况。而且无需进行高难度操作，即使是尚未熟练掌握设备使用方法的人员，也能快速得出高水准的分析结果。
还能利用“报告功能”，将拍摄、测量所得的数据导出为统一格式的简单报告，在企业内部服务器等平台上共享数据。不仅能满足工业标准、确保品质，还能查明涂装缺陷发生的原因，协助改良工序等。
“VHX系列”还配备了许多其他新功能，在确保涂装、涂膜品质及可靠性方面能够成为非常重要的伙伴。
如需了解详细内容，欢迎点击下列按钮，下载查阅产品目录或随时咨询。
